คำอธิบาย
คำอธิบายผลิตภัณฑ์
dh - kv9040 เป็นไมโคร - โฟกัส x - แหล่งกำเนิดเรย์ที่รวมอยู่ในหน่วยเดียวพัฒนาและออกแบบโดย Dinghua ด้วยแรงดันไฟฟ้าสูงสุด 90kV และความละเอียดของภาพที่5-10μmส่วนใหญ่จะใช้สำหรับการตรวจสอบอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์เช่นบรรจุภัณฑ์ 4-plane, การทดสอบแบตเตอรี่ 3C, บรรจุภัณฑ์ BGA, LED และการตรวจสอบ PCB
คุณสมบัติของผลิตภัณฑ์
*การออกแบบแบบบูรณาการ สำหรับการถอดชิ้นส่วนและการติดตั้งที่ง่าย
* ความละเอียดภาพ 5–10μmและ9.5 มม. FOD เหมาะสำหรับความละเอียดสูง - สูง - ระบบการถ่ายภาพการขยาย
*รองรับ การดำเนินการแบบออฟไลน์/ออนไลน์ เหมาะสำหรับการเปิดรับแสงยาว -
* อุตสาหกรรม - โปรโตคอลการสื่อสาร RS-232C มาตรฐานมาตรฐาน เพื่อการรวมง่าย
พารามิเตอร์ผลิตภัณฑ์
|
X - ช่วงแรงดันไฟฟ้าของหลอดเรย์ (KV) |
0~90 |
|
X - ช่วงการปรับกระแสไฟฟ้าของหลอดเรย์ (μA) |
0~200 |
|
กำลังไฟสูงสุด (W) |
8 |
|
ความละเอียดของภาพ* (μm) |
5/10 |
|
x - มุมรังสีเรย์ |
40 องศา |
|
ระยะทางโฟกัส/วัตถุประสงค์ขั้นต่ำ (FOD) (มม.) |
9.5 |
|
น้ำหนัก (กิโลกรัม) |
≈10 |
|
การส่งข้อมูล |
RS-232C |
|
แรงดันไฟฟ้าอินพุต (V) |
24 |
|
การใช้พลังงาน (W) |
＜96W |
|
อุณหภูมิการทำงาน (องศา) |
10~40 |
|
อุณหภูมิการจัดเก็บ (องศา) |
0~50 |
|
ความชื้นในการดำเนินงาน (%RH) |
20~85 |
|
ความชื้นในการจัดเก็บ (%RH) |
20~85 |
|
การปฏิบัติตาม EMC |
IEC/EN 61326-1 |
|
เวอร์ชันระบบปฏิบัติการที่ใช้งานได้ |
Windows 7, 10 & 11 |
ภาพประกอบผลิตภัณฑ์
Microfocus X - แหล่งกำเนิดรังสีได้รับการออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับการตรวจสอบความแม่นยำสูง - การตรวจสอบความแม่นยำของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์และชุดประกอบ
ด้วยแรงดันไฟฟ้าสูงสุดของหลอด 90kV และท่อกระแสสูงถึง 200µA มันให้การถ่ายภาพความละเอียดสูง - ที่ชัดเจนสำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องภายในในแผงวงจรเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุหนาแน่นอื่น ๆ ระบบทำงานบนแรงดันไฟฟ้าอินพุต 24V ทำให้มั่นใจได้ว่าประสิทธิภาพที่มั่นคงและมีประสิทธิภาพในสภาพแวดล้อมอุตสาหกรรม
ปรับให้เหมาะสมสำหรับแอปพลิเคชันไมโครโฟกัส X - แหล่งรังสีนี้ให้ภาพที่คมชัดพร้อมการบิดเบือนน้อยที่สุดทำให้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบข้อต่อประสานการตรวจจับรอยร้าวภายในและการระบุข้อบกพร่องของโครงสร้างที่ซ่อนอยู่ การออกแบบที่กะทัดรัดช่วยให้การรวมเข้ากับระบบตรวจสอบ PCB ได้ง่ายในขณะที่ยังคงเอาต์พุตที่เสถียร การรวมกันของกำลังการเจาะ 90kV และขนาดสปอตไมโครโฟกัสที่ดีจะทำให้เวลาการตรวจสอบสั้นลงอย่างมีประสิทธิภาพ
Microfocus X - แหล่งกำเนิดเรย์ (แรงดันไฟฟ้า 40–90kV) เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์ที่ออกแบบมาสำหรับการตรวจสอบความแม่นยำสูง - ความแม่นยำของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์และชิ้นส่วนโลหะ มันถูกนำไปใช้อย่างกว้างขวางในการวิเคราะห์ PCB และเมนบอร์ดเช่นเดียวกับใน Die - การตรวจสอบการหล่อสำหรับโทรศัพท์มือถือยานยนต์และอุตสาหกรรมการบินและอวกาศ การแสดงทางด้านขวาเป็นตัวอย่างของการตาย - ชิ้นส่วนหล่อจากบ่อน้ำ - ผู้ผลิตโทรศัพท์มือถือที่รู้จัก ด้วยระบบนี้ข้อบกพร่องเช่นรอยแตกรูขุมขนช่องหดการกระจายของวัสดุที่ไม่สม่ำเสมอและข้อบกพร่องของโครงสร้างภายในสามารถระบุได้อย่างชัดเจน
แหล่งที่มาส่งกระแสสูงสุดของท่อสูงสุดของ 200µA ซึ่งรองรับโดยแรงดันไฟฟ้าอินพุต 24V ที่เสถียรทำให้มั่นใจได้ว่าการทำงานที่เชื่อถือได้แม้ในสภาพแวดล้อมที่ต้องการ การออกแบบไมโครโฟกัสของมันทำให้เกิดการบิดเบือนที่คมชัด - ภาพฟรีทำให้วิศวกรสามารถวิเคราะห์ความแตกต่างของโครงสร้างที่ละเอียดอ่อนได้อย่างแม่นยำ สำหรับการใช้งานทางอิเล็กทรอนิกส์นั้นมีประสิทธิภาพโดยเฉพาะอย่างยิ่งในการตรวจสอบข้อต่อประสานการวิเคราะห์ชิป BGA และบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์ สำหรับชิ้นส่วนโลหะการเจาะที่แข็งแกร่งช่วยให้สังเกตได้อย่างลึกซึ้งปราศจากการประนีประนอมความชัดเจนของภาพ
ด้วยการออกแบบขนาดกะทัดรัดแหล่งกำเนิดรังสี 40–90kv x - Ray นั้นง่ายต่อการรวมเข้ากับระบบการตรวจสอบทำให้ผู้ผลิตมีโซลูชั่นที่มีประสิทธิภาพสำหรับการควบคุมคุณภาพการวิจัยและพัฒนาและการวิเคราะห์ความล้มเหลว ด้วยการรวมรายละเอียดการโฟกัสที่ดีเข้ากับการเจาะที่แข็งแกร่งทำให้ช่วยเพิ่มความน่าเชื่อถือในการตรวจสอบในขณะที่ลดเวลาการตรวจสอบอย่างมีนัยสำคัญ
